IC-Clips

Testklemmen für ICs werden am häufigsten zwischen einem IC-Chip und einem Messgerät verwendet, um eine vorübergehende elektrische Verbindung herzustellen. Elemente dieser Familie sind federbelastet und verfügen über mehrere Kontaktpunkte, die für die Befestigung an den Anschlüssen eines ICs ausgelegt sind. Die IC-Typen sind DIP, LCC, PLCC, QFP, SOIC und SSOP, wobei die Anzahl der Positionen zwischen 8 (1 x 8 oder 2 x 4) und 240 (17 x 17) liegt.