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Texas Instruments
SN74BCT8374ANTG4
703-SN74BCT8374ANTG4
PDF-Datenblatt
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
Warum wir?
Professionelle Plattform
B2B & B2C BeschaffungSchnelle Lieferung
1-2 Tage LieferzeitGroße Vielfalt
Originalhersteller365 Tage Garantie
Verantwortungsvolle Qualität
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Technische Daten
Betriebstemperatur
0°C ~ 70°C
Logiktyp
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
ECCN
EAR99
Befestigungsart
Through Hole
Produktstatus
Obsolete
Gerätepaket des Lieferanten
24-PDIP
Serie
74BCT
Verpackung/Koffer
24-DIP (0.300", 7.62mm)
FAQ
Welchen Betriebstemperaturbereich unterstützt SN74BCT8374ANTG4?
Der angegebene Betriebstemperaturbereich von SN74BCT8374ANTG4 beträgt 0°C ~ 70°C.
Was ist SN74BCT8374ANTG4?
Gibt es für SN74BCT8374ANTG4 staffelabhängige Preise?
Ist SN74BCT8374ANTG4 aktuell auf Lager?
Welche Spannungsspezifikation ist für SN74BCT8374ANTG4 angegeben?
Kurzes Zitat
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